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题名:
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技术的阴暗面 [ 专著] ji shu de yin an mian / (英)彼得·汤森(Peter Townsend)著 , 郭长宇，都志亮译 |
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ISBN:
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978-7-5428-8102-1 价格： CNY88.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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323页 24cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科技教育出版社有限公司 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书为读者呈现了技术的潜在危险和负面影响，并提醒我们，如果我们不采取行动，技术进步将危及人类生存。 |
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主题词:
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科学技术 技术进步 |
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中图分类法:
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N1-49 版次： 5 |
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其它题名:
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人类文明的潜在危机 |
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主要责任者:
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汤森 tang sen 著 |
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次要责任者:
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郭长宇 guo chang yu 译 |
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次要责任者:
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都志亮 du zhi liang 译 |
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附注:
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世纪出版 |
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责任者附注:
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彼得·汤森（PeterTownsend）,英国萨塞克斯大学工程实验物理学荣誉退休教授，马德里自治大学荣誉博士，曾因乳腺癌检测技术方面的成果入围欧盟笛卡儿研究奖。汤森的研究兴趣涵盖了发光学、光电子学、辐射剂量学、纳米科学等15个领域，曾在8个国家的学术界、工业界和国家实验室工作，发表过530余篇论文。 |