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题名:
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我们真的可以测量智力吗 wo men zhen de ke yi ce liang zhi li ma / 科荣著 , 何素珍译 |
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ISBN:
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978-7-5439-7187-5 价格： CNY18.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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108页 19cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术文献出版社 出版日期： 2017.1 |
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内容提要:
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本书从智力是一个既有趣又有疑问的话题、智力是一元的还是多元的、智力才能与个体差异、智商是什么、智商测验的是什么、现在为什么要测智力、使智力测量产生偏差的因素、趋向智力的动态评估、智商在一生中不断发展变化、可以提高智商吗、智商与学业顺利和工作有成有关吗、我们对未来有什么期待这些方面, 以生动有趣的语言深入浅出的剖析了智力测量, 带给读者很多启发。 |
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主题词:
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智力测验 |
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中图分类法:
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G449.4-49 版次： 5 |
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主要责任者:
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科荣 ke rong 著 |
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次要责任者:
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何素珍 he su zhen 译 |